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【技术讲座】西北工业大学分析测试中心系列讲座(第十五期)
2019-09-05 08:47   审核人:   (点击: )

西北工业大学分析测试中心系列讲座(第十五期)

一、报告题目:表面分析中XPS技术应用

二、报告人:张伟(XPS应用工程师)

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三、讲座时间:201996日(星期五),14:30-16:00

四、讲座地点:友谊校区研究生西馆XA201

五、报告摘要:

本次讲座中,将介绍表面分析技术,包括XPS、紫外光电子能谱(UPS)和低能反光电子能谱(LEIPS)。XPS提供样品的原子组成和化学价态的信息;UPS测量半导体的价带信息,并提供样品的功函等信息;LEIPS提供样品的导带信息,并能够直接测量样品的电子亲和势。从UPSLEIPS,可以计算出半导体带隙。此外,还将展示在有机发光二极管(OLED)、太阳能电池和电池研究领域的应用。

表面分析技术中X射线光电子能谱(XPS)、紫外光光电子能谱(UPS)和反光电子能谱(IPES)可以从电子尺度研究表界面特性。利用扫描聚焦XPS可以提供高表面灵敏(<10 nm)和高空间分辨(<10 um)的化学态解析能力;通过结合团簇离子源(GCIB),更可以实现对多层膜结构材料进行无损深度剖析;通过配备样品传输管,可以实现样品在惰性气氛下传递,满足锂电池材料等气敏样品的测试需求;通过与UPSIPES相结合,可以实现对芯能级、价带和导带电子结构信息的全面探测。

六、报告人简介:

张伟,2013年本科毕业于兰州大学材料物理专业,获得学士学位,2016年研究生毕业于中国科学技术大学国家同步辐射实验室,获得硕士学位。

2013年开始接触表面分析和超高真空设备,同步辐射的技术和设备,已经有超过6年的表面分析以及超高真空方面的经验。

目前,主要负责包括X射线光电子能谱仪(XPS),俄歇电子能谱(AES)和飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)相关的表面分析设备的前期技术交流、市场推广、应用合作和销售等工作。

欢迎校内外师生参加与交流

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