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聚焦离子/电子双束电镜(FIB)的SEM模块及台式SEM免费试运行通知
2018-05-12 16:38   分析测试中心 审核人:   (点击: )

校分析测试中心新购置的聚焦离子/电子双束系统Helios G4 CX已顺利完成了主机安装调试工作,设备具有超高分辨浸入式场发射镜筒,在高低电压下均有非常优异的分辨率。可应用于高质量定点TEM样品制备,高分辨形貌分析和化学成分及物相结构等分析功能。高分辨扫描功能可对离子束加工试样进行实时观测。

SEM测试一直是很多科研团队最急需的测试设备。校分析测试中心本着全心全意为全校科研团队提供一流分析测试服务的宗旨,坚持设备到货后立即安装调试,并及时开放运行的原则,拟于5月14日~5月20日将聚焦离子/电子双束电镜(FIB)的SEM模块及配套台式SEM面向全校免费开放试运行。其中,为了使Helios G4 CX更高效的使用,台式SEM主要用于筛选样品。欢迎大家预约测试!

1.设备信息

FIB品牌型号:FEI Helios G4 CX

台式SEM品牌型号:日立(HITACHI)TM4000PLUS

2.技术指标

Helios G4 CX:

稳定性:优于0.4%/10h

二次电子分辨率在最佳工作距离时分辨率:0.6nm@15kV;1.2nm@1kV

样品加工后,能快速切换到电子束检查与成像

背散射电子分辨率:1.6nm@15kV

电子束和离子束交叉点、分析工作距离:4.0mm

加速电压:200V-30KV (电压范围连续可调)

束流强度:1pA - 100nA

配置可加热式物镜光阑,自动光澜,具有自动烘烤自清洁功能

电子束减速模式:- 4 kV ~ 0V15kV加速电压,设备分辨率0.6 nm

TM4000PLUS:可进行快速筛样,不导电样品观测效果优良。

3.试运行办法

试运行时间:5月14日至5月20日,每日8:00-20:00;

试运行模式:中心预约系统计时预约

同时为了让更多课题组有机会试用新设备,每个课题组试运行期间预约机时限定为最多2小时,如超出2小时管理员将直接取消预约,请全校师生理解支持;

试运行收费标准:校内免费;

设备测试和放置地点:友谊校区诚字楼东侧106、108实验室;

设备管理老师:

史学芳:13519173451

高倩雯:15991162971

刘 慧:13341196280

注册账号流程网址:http://atc.nwpu.edu.cn/index/cslc.htm;

分析测试中心账号管理员:郑调老师,电话:029-88460747。

本中心秉承“竭诚为全校双一流建设服务”之原则,力求周到顺畅。但一些运行模式和办法仍处于摸索阶段,需经一段时间的运行检验,如效果不理想,会即时更改革新。欢迎校内师生多提宝贵意见和建议!

欢迎全校师生预约测试!

校分析测试中心

2018年5月11日

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